Мониторинг конструкторско-технологических параметров полупроводниковых гетероструктур с использованием цифровой обработки изображений их поверхности : автореферат диссертации на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : спец.: 05.12.04 - Радиотехника, в том ч
Номан М. А. А.Wydawnictwo:
ВлГУ
Język:
russian
Strony:
19
ISBN 10:
5757703547
ISBN 13:
9785757703541
Plik:
PDF, 1.65 MB
IPFS:
,
russian0