Darowizna 15 września 2024 – 1 października 2024 O zbieraniu funduszy

Объекто-ориентированное сканирование для зондовой...

Main
Technique - Nanotechnology
Объекто-ориентированное сканирование...

Объекто-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии

Лапшин Р.В.

0 / 0

Jak bardzo podobała Ci się ta książka?

Jaka jest jakość pobranego pliku?

Pobierz książkę, aby ocenić jej jakość

Jaka jest jakość pobranych plików?

Kategorie:

Technique - Nanotechnology

Rok:

2002

Język:

russian

Strony:

108

Plik:

PDF, 9.67 MB

IPFS:

,

russian, 2002

Czytaj Online

Trwa konwersja do

Konwersja do nie powiodła się

Możesz być zainteresowany

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Методичка. — Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

Елманов Г.Н., Логинов Б.А., Севрюков О.Н. — Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов

Приходько К.Е., Забусов О.О., Гайдученко А.Б. — Аналитические методы исследования реакторных материалов: учебное пособие для вузов

Васильевский И.С., Грехов М.М., Гусев А.С., Каргин Н.И., Сигловая Н.В., Стриханов М.Н., Тимофеев А.А. — Лабораторный практикум по физике и технологии наноструктурной электроники: Учебное пособие

Мошников В.А., Спивак Ю.М. — Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики

Мошников В.А. (ред.) — Диагностика материалов методами сканирующей зондовой микроскопии

Мошников В.А., Спивак Ю.М., Алексеев П.А., Пермяков Н.В. — Атомно-силовая микроскопия для исследования наноструктурированных материалов и приборных структур

Волков А.В., Саноян А.Г., Бородин С.А., Агафонов А.Н. — Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов

Корнилов В.М., Галиев А.Ф.;рец.: Екомасов Е.Г., Гадиев Р.М. — Основы зондовых технологий: метод. Пособие

Яминский И.В., Филонов А.С., Бондаренко В.М., Галлямов М.О., Киселева О.И. — Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров. Выпуск 1.

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Смирнов В.И. — Неразрушающие методы контроля параметров полупроводниковых материалов и структур

Сергеев А.Г. — Введение в нанометрологию

Najbardziej popularne frazy

поверхности

сканирования

особенности

особенностей

микроскопа

манипулятора

измерения

процессе

перемещения

распознавания

привязки

изображения

поверхность

сканирование

апертуры

плоскости

положения

связывания

погрешности

изображение

процедура

сегмента

скорость

измерений

координат

погрешность

координаты

скиппинга

качестве

разупорядоченной

усреднений